CX-3110AW任意波形损耗测量装置
（产品示意图，具体以实物配置为准）
◆ 简介
CX-3110AW任意波形损耗测量装置适用于软磁材料动态磁性参数测量可准确测量电工钢片（带）、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料的
交流磁性参数：比总损耗Ps、磁极化强度Jm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅磁导率，以及交流磁化曲线和损耗曲线。
测试系统采用数字信号合成及处理技术, 由高速宽频带双极性功率放大器、可准确测量电工钢片（带）、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料的
高精密宽频功率分析仪和工控计算机组成自动测试系统， 配置软磁高频损耗测量系统V8.0测量软件，可实现各种复杂的磁特性测试以及数据管理。
◆ 设备特点
| 1.采用计算机控制的数字化电源和标准功率表，整个测试过程自动完成。 2.测试样品具有闭合磁路的结构，直接在样品上绕线测量；样品、磁化线圈（N1）和测量线圈（N2）共 同组成空载变压器。 3.磁化线圈回路与标准功率表的电流端串联，通过读取功率表的电流峰值得到磁场峰值。 4.测量线圈接到标准功率表的电压输入端，通过读取功率表的电压有效值来计算磁感应强度的峰值。 |
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◆ 测试项目
1. 闭路样品
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| 将样品、磁化线圈（N1）、测量线圈（N2）共同组成一个空载变压器。可测量环形、矩形，CD形、EE形、UU形，PQ形等具有闭合磁路结构的试样。 |
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材料 | 测量参数 | 适用标准 |
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硅钢、非晶、纳米晶、坡莫合金和SMC软磁复合材料等 | Ps、Bm、Hm、Ss、ua，以及交流磁化曲线和损耗曲线 | GB/T 3658-2008 GB/T 19346.1-2017 | ||
2.爱泼斯坦方圈
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爱泼斯坦方圈是用于测量电工钢带磁特性参数的磁化装置。由四个线圈和空气磁通补偿线圈组成,四个线圈的每一个都包含初级磁化绕组和次级感应绕组。测试时由初级线圈、次级线圈和作为铁芯的电工钢带试样组成一个空载变压器。
型号 | ES-700 | ES-200 |
适用标准 | GB/T 3655和IEC 60404-2 | GB/T 10129 |
等效磁路 | 940mm | 940mm |
线圈匝数 | N1=N2=700匝 | N1=N2=200匝 |
适用频率 | 50〜400Hz | 400Hz～10kHz |
样品尺寸 | 宽30mm±0.2mm,长280～320mm±0.5mm | |
试样质量 | 240g〜1000g | 200g〜1000g |
3.SST-300磁导计
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| 磁导计是用于电工钢带单片样品测量时的磁化装置，由磁轭、励磁线圈和极靴等组成。测试时将被测试样放入磁导计中与磁轭一起构成闭合磁路。 可根据用户要求定制各种规格的非标磁导计。 |
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测量参数 | 技术指标 |
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参考标准 | GB/T 13789-和IEC 60404-3 | ||
适用频率范围 | 50Hz〜150Hz | ||
样品尺寸 | 30mm X 300mm（单片） | ||
试样质量 | 10g〜30g | ||
◆ 技术参数
1.硬件参数
※ 使用环境 | |
参数 | 技术指标 |
输入电源 | 单相220V，50Hz |
使用环境 | 环境温度：23±5℃；环境湿度：30～75%RH |
外磁场干扰 | 应绝对避免 |
热平衡时间 | 10分钟 |
※ 功率放大器 | |
参数 | 技术指标 |
放大波形 | 任意波形 |
最大输出功率 | 900Wp 或定制更高功率 |
频率范围 | 40～10kHz或定制更高频率 |
频率细度 | < 0.1%×当前值，频率误差< 0.05% |
输出电压 | 0～45Vp |
※功率分析仪 | |
参数 | 技术指标 |
频率测量 | 40Hz～100kHz |
电流测量 | 0～10A |
电压测量 | 0～100V |
相位精度 | 1% ±0.05° |
2、技术指标
► 依据GB/T 3655，在50Hz、60Hz频率下，使用625px爱泼斯坦方圈测量30×300的硅钢标样。 | |||||||||
被测参数 | Ps(%) | Hrms(%) | Bm(%) | Hm(%) | |||||
不确定度(k=2) | 1 | 2 | 1 | 2 | |||||
重复性(恒温) | ± 0.5 | ± 1 | ± 0.5 | ± 1 | |||||
► 依据国标GB/T 3658，在40Hz～10kHz频率下，测量坡莫合金环形试样 | |||||||||
被测参数 | Ps(%) | μa(%) | δ(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不确定度(k=2) | 3 | 2 | —— | 1 | 1 | ||||
重复性(恒温) | ± 1.5 | ± 1 | ± 1 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
► 依据国标GB/T 19346.1，在40Hz～10kHz频率下，测量非晶环形试样 | |||||||||
被测参数 | Ps(%) | μa(%) | Ss(%) | Bm(%) | Hm(%) | ||||
不确定度(k=2) | 3 | 3 | 3 | 1 | 1 | ||||
重复性(恒温) | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 1.5 | ± 0.5 | ± 0.5 | ||||
◆ SMTest测量软件
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| ► 运行环境：测量软件运行于Windows操作系统下，操作简捷。► 系统语言：中文。 ► 有多种单位制式可选，以保证不同用户各自的使用习惯。 ► 支持环形、EE、EI、CD、矩形、双孔、BS和其它等各种形 状样品参数的输入。 ► 可根据样品外形尺寸计算样品的有效截面积和有效磁路长度。 ► 支持一次设置多组测量条件，可同时设置固定频率、固定Bm 和固定Hm等多种测量模式，一键完成多条件测试。 ► 每组一次设置1～100个测试点，支持批量快速设置。 ► 设置的测量条件保存到“保存的测量条件”，无需重复输入测 量条件。 ► 文件系统采用数据库格式，可输出测试结果到Excel表格中。 ► 测试数据自动保存，支持历史数据查询、调入和删除。 |
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►测试曲线 |
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