CX-3123SA软磁高频损耗测量装置

                                                                                 （产品示意图，具体配置清单为准）

➮➮ 简   介

CX-3123SA/3M软磁高频损耗测量装置可自动测量铁硅铝、铁铝、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶和硅钢等软磁材料在10Hz～3MHz（连续频率）条件下的交流磁性参数：Ps、Bm、Hm、Ss，μa、δ、Br和Hc，可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等动态磁特性参数。

测试系统采用数字信号合成及处理技术, 由高速宽频带双极性功率放大器、高精密宽频功率分析仪、自动功率调整模块和工控计算机组成自动测试系统， 配置软磁高频损耗测量系统V8.0测量软件，可实现各种复杂的磁特性测试以及数据管理。 

CX-3123SA/3M软磁高频损耗测量装置加载自动功率调整模块，最大励磁功率可达到800VA，实现了宽频带、高功率，较好的解决了高频条件下试样制备要求高，测试范围窄的问题。

系统设计符合GB/T3658、GB/T19346.1、SJ20966、IEC60404-6等标准规范要求。

CX-3123SA/3M软磁高频损耗测量装置可用于铁硅铝、铁铝等金属磁粉心、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶等软磁材料在10HZ-3MHZ宽频段的磁导率、损耗和BH曲线测试。设备可选配直流偏置功能和贴片电感测试工装，可用于金属磁粉心、铁氧体等磁性材料和变压器、贴片电感器等磁性元件磁性能检测。CX-3123SA为联众集团升级产品，替代原型号MATS-3123SA，并可跟日本岩崎IWATSU的SY-8218和SY-8219进行有效对标。联众集团软磁高频损耗测量装置广泛应用于高频软磁材料科研生产和应用领域，合作单位包括清华大学，中科院宁波材料所，华为，荣耀，小米等

➮ 测试项目

1.测试样品种类：可测试非晶/纳米晶、硅钢、坡莫合金金属磁粉芯和软磁铁氧体等软磁材料。

2.测试样品形状：可测试样品包括块体、粉体、条带等制备的磁环样品。直接在样品上绕制励磁（N1）和感应（N2）线圈测量环形、矩形、EE形和EI形等闭路样品。

3.测试参数：测量软磁材料在10Hz～3MHz（连续频率）条件下的磁滞回线和动态磁性参数，可准确测量μa、δ、Ps、Br和Hc，可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等动态磁性参数。

➮ 设备特点

1.采用计算机控制的数字化电源和标准功率表，整个测试过程自动完成。

2.测试样品具有闭合磁路的结构，直接在样品上绕线测量；样品、磁化线圈（N1）、测量线圈（N2）共同组成空载

变压器。

3.磁化线圈回路与标准功率表的电流端串联，通过读取功率表的电流峰值得到磁场峰值。

4.测量线圈接到标准功率表的电压输入端，通过读取功率表的电压有效值来计算磁感应强度的峰值。

5.采用自动功率调整技术，最大励磁功率可达到800VA，实现了宽频带、高功率，较好的解决了高频条件下试样制备要求高，测试范围窄的问题。

⒍采用伏安法和数字积分法测量动态磁滞回线、比总损耗Ps、磁感应强度Bm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅

磁导率μa、损耗角δ、剩磁Br和矫顽力Hc等动态磁特性参数，并推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q

和AL等。

➮➮ 技术参数

1.使用环境

2．硬件参数

2.1.信号发生器

2.2.高速宽频带双极性功率放大器

2.3.高精密宽频功率分析仪（10-3MHZ）

➮ 测量软件测量软件

⒈ 运行环境：软磁高频损耗测量系统V8.0测量软件运行于Windows操作系统下，操作简捷。

⒉ 系统语言：中文。

⒊有多种单位制式可选，以保证不同用户各自的使用习惯。

⒋支持环形、EE、EI、CD、矩形、双孔、BS和其它等各种形状样

品参数的输入。

⒌可根据样品外形尺寸计算样品的有效截面积和有效磁路长度。

⒍支持固定频率、固定Bm或固定Hm等多种测量模式。

⒎支持一次设置多组测量条件，可同时设置固定频率、固定Bm和固定Hm等测量模式，一键完成多条件测试。

⒏每组一次设置1～100个测试点，支持批量快速设置。

⒐设置的测量条件保存到“保存的测量条件”，无需重复设备测量条件。

⒑实时显示I(t)、U(t)、B(t)采样波形，可显示曲线上每一个数据点的坐标信息。

⒒可显示B(H)磁化曲线、B(H)磁滞回线或μ(H)磁导率曲线，并可显示曲线上每一个数据点的坐标信息。

⒓文件系统采用数据库格式，可输出测试结果到Excel表格中。

⒔测试数据自动保存，支持历史数据查询、调入和删除。