CX-3123SA软磁高频损耗测量装置

                                                                                 (产品示意图,具体配置清单为准)

 简   介

       CX-3123SA/3M软磁高频损耗测量装置可自动测量铁硅铝、铁铝、软磁铁氧体、坡莫合金、非晶/纳米晶和硅钢等软磁材料在10Hz~3MHz(连续频率)条件下的交流磁性参数:Ps、Bm、Hm、Ss,μa、δ、Br和Hc,可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等动态磁特性参数。

测试系统采用数字信号合成及处理技术, 由高速宽频带双极性功率放大器、高精密宽频功率分析仪、自动功率调整模块和工控计算机组成自动测试系统, 配置软磁高频损耗测量系统V8.0测量软件,可实现各种复杂的磁特性测试以及数据管理。 

      CX-3123SA/3M软磁高频损耗测量装置加载自动功率调整模块,最大励磁功率可达到1000VA有效值,实现了宽频带、高功率,较好的解决了高频条件下试样制备要求高,测试范围窄的问题。

     CX-3123SA软磁高频损耗测量装置可由用户自行编辑加载任意波形进行损耗试验,也可直接在系统选择加载三角波,方波,梯形波等进行励磁。

系统设计符合GB/T3658、GB/T19346.1、SJ20966、IEC60404-6等标准规范要求。


 测试项目

    1.测试样品种类:可测试非晶/纳米晶、硅钢、坡莫合金金属磁粉芯和软磁铁氧体等软磁材料。

    2.测试样品形状:可测试样品包括块体、粉体、条带等制备的磁环样品。直接在样品上绕制励磁(N1)和感应(N2)线圈测量环形、矩形、EE形和EI形等闭路样品。

    3.测试参数:测量软磁材料在10Hz~3MHz(连续频率)条件下的磁滞回线和动态磁性参数,可准确测量μa、δ、Ps、Br和Hc,可推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q和AL等动态磁性参数。


 设备特点

    1.采用计算机控制的数字化电源和标准功率表,整个测试过程自动完成。

    2.测试样品具有闭合磁路的结构,直接在样品上绕线测量;样品、磁化线圈(N1)、测量线圈(N2)共同组成空载

变压器。

    3.磁化线圈回路与标准功率表的电流端串联,通过读取功率表的电流峰值得到磁场峰值。

    4.测量线圈接到标准功率表的电压输入端,通过读取功率表的电压有效值来计算磁感应强度的峰值。

    5.采用自动功率调整技术,最大励磁功率可达到1000VA,实现了宽频带、高功率,较好的解决了高频条件下试样制备要求高,测试范围窄的问题。

   ⒍采用伏安法和数字积分法测量动态磁滞回线、比总损耗Ps、磁感应强度Bm、磁场强度Hm、比视在功率Ss、振幅

磁导率μa、损耗角δ、剩磁Br和矫顽力Hc等动态磁特性参数,并推算特定条件下的μ′、μ″、μL、μR、Q

和AL等。


 技术参数

1.使用环境

参数

技术指标

输入电源

单相220V,50Hz

使用环境

环境温度:23±5℃;环境湿度:30~75%RH

外磁场干扰

应绝对避免

热平衡时间

10分钟

2.硬件参数

2.1.信号发生器

参数

技术指标

频率带宽

10〜3MHz;频率步进:1Hz

输出波形

任意波形(包含但不限于正弦波,方波,三角波,矩形波)

频率精度

< 0.1%×当前值;频率误差< 0.05%

电压精度

1mV (程控,锁Bm测试时);

电压失真度

<0.5%

2.2.高速宽频带双极性功率放大器

参数

技术指标

独立输出

加配自动功率模块输出

加配自动功率模块输出

最大输出功率(有效值)

200VA

500VA(50k-500kHZ:1000VA;500kHZ-1MHZ:800VA)

240VA

频率带宽

10Hz-3MHz

10kHz-1MHz

1MHz-3MHz

最大输出电压(有效值)

50Vrms

100Vrms

120Vrms

最大输出电流(有效值)

±4Arms

±10Arms

±2Arms

2.3.高精密宽频功率分析仪(10-3MHZ)

参数

技术指标

频率测量范围

10〜3MHz

电流测量范围

1uA~14.1A (峰值)

电压测量范围

1mV~200V(峰值);

电压、电流测量精度

10-250kHZ:±0.1%RD+0.1%RG

250K-500kHZ:±0.2%RD+0.2%RG

500K-1000kHZ:±0.4%RD+0.4%RG

功率测量精度

10-250kHZ:±0.2%RD+0.1%RG

250K-500kHZ:±0.4%RD+0.2%RG

500K-1000kHZ:±0.8%RD+0.4%RG

损耗测量精度

±3%(测量纳米晶标样时);

相位稳定度

±0.05°(损耗角≤2°,恒温)

相位精度

±0.15°(50k1MHz,恒温)

其中:RD代表读数,RG代表量程


 测量软件
测量软件

⒈ 运行环境:软磁高频损耗测量系统V8.0测量软件运行于Windows操作系统下,操作简捷。

⒉ 系统语言:中文。

⒊有多种单位制式可选,以保证不同用户各自的使用习惯。

⒋支持环形、EE、EI、CD、矩形、双孔、BS和其它等各种形状样

品参数的输入。

⒌可根据样品外形尺寸计算样品的有效截面积和有效磁路长度。

⒍支持固定频率、固定Bm或固定Hm等多种测量模式。 

⒎支持一次设置多组测量条件,可同时设置固定频率、固定Bm和固定Hm等测量模式,一键完成多条件测试。

⒏每组一次设置1~100个测试点,支持批量快速设置。

⒐设置的测量条件保存到“保存的测量条件”,无需重复设备测量条件。

⒑实时显示I(t)、U(t)、B(t)采样波形,可显示曲线上每一个数

据点的坐标信息。

⒒可显示B(H)磁化曲线、B(H)磁滞回线或μ(H)磁导率曲线,并可显示曲线上每一个数据点的坐标信息。

⒓文件系统采用数据库格式,可输出测试结果到Excel表格中。

⒔测试数据自动保存,支持历史数据查询、调入和删除。